Semiconductor device measurements
| Permalink: | http://skupnikatalog.nsk.hr/Record/fer.KOHA-OAI-FER:21326 |
|---|---|
| Glavni autor: | Mulvey, John (-) |
| Vrsta građe: | Knjiga |
| Jezik: | eng |
| Impresum: |
Tektronix, Inc,
1969.
|
| Izdanje: | 1. neprom. izd |
| Nakladnička cjelina: |
Measure Concepts / Tektronix, Inc..
|
Zavod za osnove elektrotehnike i električka mjerenja - ZOEM
| Signatura: |
3. KAT |
|---|---|
| Primjerak 1097 |
Dostupno |
Zavod za elektroničke sustave i obradbu informacija - Spremište
| Signatura: |
4686 |
|---|---|
| Primjerak ZESOI_4686 |
Dostupno |