Utjecaj površine na pouzdanost mikroelektroničkih sklopova

Ključne riječi: pouzdanost, kvar, defekt, mehanizam kvara, mod kvara, stres, degradacija funkcije, otkaz, ciljna pouzdanost, monitor procesa

Permalink: http://skupnikatalog.nsk.hr/Record/fer.KOHA-OAI-FER:4572/Details
Glavni autor: Đuzel, Marijana (-)
Ostali autori: Biljanović, Petar (Thesis advisor)
Vrsta građe: Knjiga
Jezik: hrv
Impresum: Zagreb : M. Đuzel ; Fakultet elektrotehnike i računarstva, 1996.
LEADER 01152nam a2200229uu 4500
005 20210903180017.0
008 s1996 ci a |||||||||| ||hrv|d
999 |c 4572  |d 4572 
035 |a HR-ZaFER 6025 
040 |a HR-ZaFER  |b hrv  |c HR-ZaFER  |e ppiak 
041 |a hrv 
080 |a 621.3.049.77  |h MEHANIČKA GRAĐA. STRUKTURA MATERIJALA I KOMPONENTI  |j MIKROELEKTRONIKA. INTEGRIRANI STRUJNI KRUGOVI  |e 621.3.049.7  |9 289 
100 1 |9 10159  |a Đuzel, Marijana 
245 |a Utjecaj površine na pouzdanost mikroelektroničkih sklopova :  |b magistarski rad /  |c Marijana Đuzel ; [mentor Petar Biljanović] 
260 |a Zagreb :  |b M. Đuzel ; Fakultet elektrotehnike i računarstva,  |c 1996. 
300 |a 78+4 str. :  |b graf.prikazi ;  |c 30 cm. 
504 |a Bibliografija str. 80. 
520 |a Ključne riječi: pouzdanost, kvar, defekt, mehanizam kvara, mod kvara, stres, degradacija funkcije, otkaz, ciljna pouzdanost, monitor procesa 
520 |a Key words: reliability, failure, defect, failure mechanism ,failure mode, stress, function degradation, wearout, reliability goal, process monitor 
700 |4 ths  |9 4015  |a Biljanović, Petar 
942 |c M  |2 udc 
990 |a 6018