Analysis of conducted electromagnetic emissions in integrated circuits = Analiza vođenih elektromagnetskih smetnji u integriranim sklopovima
Projektiranje integriranih sklopova vrlo je složen postupak. Jedan od najsloženijih zadataka u projektiranju integriranih sklopova je procjena elektromagnetske kompatibilnosti (EMC). Elektronièki proizvodi moraju zadovoljiti standarde za elektromagnetsku kompatibilnost, a najèešæi izvor i uzrok smet...
| Permalink: | http://skupnikatalog.nsk.hr/Record/fer.KOHA-OAI-FER:30169 |
|---|---|
| Glavni autor: | Čeperić, Vladimir (-) |
| Ostali autori: | Barić, Adrijan (Thesis advisor) |
| Vrsta građe: | Knjiga |
| Jezik: | eng |
| Impresum: |
Zagreb :
V. Čeperić ; Fakultet elektrotehnike i računarstva,
2007.
|
Središnja knjižnica - KF
| Signatura: |
KF-4105 |
|---|---|
| Primjerak 25337 |
Dostupno |