Analysis of conducted electromagnetic emissions in integrated circuits = Analiza vođenih elektromagnetskih smetnji u integriranim sklopovima : master thesis = magistarski rad - Čeperić, Vladimir (V. Čeperić ; Fakultet elektrotehnike i računarstva, 2007)
Projektiranje integriranih sklopova vrlo je složen postupak. Jedan od najsloženijih zadataka u projektiranju integriranih sklopova je procjena elektromagnetske kompatibilnosti (EMC). Elektronièki proizvodi moraju zadovoljiti standarde za elektromagnetsku kompatibilnost, a najèešæi izvor i uzrok smetnji u elektronièkim sustavima su integrirani sklopovi. Da bi se ispitala elektromagnetska kompatibilnost integriranih sklopova u ovom su radu simulirani i mjereni standard za emisiju voðenih elektromagnetskih smetnji i standard za imunitet na voðene elektromagnetske smetnje. Razvijeni su modeli prikladni za simulaciju elektromagnetske emisije i imuniteta, te je procijenjena njihova toènost. Projektiranje elektromagnetski kompatibilnih integriranih sklopova pojednostavljeno je povezivanjem modela potrebnih za analizu elektromagnetske kompatibilnosti s optimizacijskim procedurama. Da bi se procijenila toènost takvih modela, projektirani su, procesirani i izmjereni integrirani sklopovi u submikrometarskoj CMOS tehnologiji i rezultati mjerenja usporeðeni su s rezultatima simulacija. Kljuène rijeèi: elektromagnetska kompatibilnost (EMC), voðene elektromagnetske smetnje, imunitet na voðene elektromagnetske smetnje, EMC na razini integriranih sklopova, optimizacija sklopova, modeliranje izvora elektromagnetske smetnje.