Semiconductor measurements and instrumentation

Permalink: http://skupnikatalog.nsk.hr/Record/irb.0003971/Details
Glavni autori: Runyan, W.R (Author), Shaffner, T.J
Vrsta građe: Knjiga
Jezik: eng
Impresum: New York [etc.] : McGraw-Hill, cop. 1998.
Izdanje: 2nd ed
Predmet:
LEADER 00733nam a2200253 i 4500
001 0003971
003 HR-ZaIRB
005 20110517105441.0
008 030612s1998 -usa |||||||||||||eng d
020 |a 0070576971 
035 |z 4807 
040 |a HR-ZaIRB  |b hrv  |c HR-ZaIRB  |e ppiak 
080 |a 621.39 
100 1 |4 aut  |a Runyan, W.R. 
245 1 0 |a Semiconductor measurements and instrumentation /  |c W. R. Runyan and T. J. Shaffner. 
250 |a 2nd ed. 
260 |a New York [etc.] :   |b McGraw-Hill,   |c cop. 1998. 
300 |a VII, 452 str. :   |b ilustr. ;   |c 24 cm. 
504 |a Bibliografija. 
653 |a semiconductors  |a measurements 
700 1 |4 aut  |a Shaffner, T.J. 
942 |c BOOK 
998 |c Konjević, Sofija 
999 |c 4003  |d 4003