Simulation of the impact of stress induced piezoelectric charge in gaAs MESFETs

Permalink: http://skupnikatalog.nsk.hr/Record/fer.KOHA-OAI-FER:5932/Details
Glavni autor: Barić, Adrijan (-)
Ostali autori: McNally, Patrick (Thesis advisor), Greenough, Chris
Vrsta građe: Knjiga
Jezik: eng
Impresum: Dublin : A. Barić ; Dublin City University, 1995.
LEADER 00932nam a2200217uu 4500
005 20190722152248.0
008 s1995 a |||||||||| ||eng|d
035 |a HR-ZaFER 7410 
040 |a HR-ZaFER  |b hrv  |c HR-ZaFER  |e ppiak 
041 |a eng 
080 |a 621.38  |h ELEKTROTEHNIKA  |j ELEKTRONIKA. ELEKTRONIČKI UREĐAJI. POLUVODIČI. FOTOĆELIJE. ELEKTRONIČKE CIJEVI. ROENTGEN. ELEKTRONIČKI UREĐAJI NA OSNOVI KRUTIH TVARI  |e 621.3  |9 1137 
100 1 |9 10368  |a Barić, Adrijan 
245 |a Simulation of the impact of stress induced piezoelectric charge in gaAs MESFETs :  |b dissertation /  |c Adrijan Barić ; [mentor Patrick McNally, Chris Greenough] 
260 |a Dublin :  |b A. Barić ; Dublin City University,  |c 1995. 
300 |a 161 str. :  |b ilustr. ;  |c 30 cm. 
504 |a Bibliografija str. 153-161. 
700 |4 ths  |9 39782  |a McNally, Patrick 
700 |4 ths  |9 39783  |a Greenough, Chris 
942 |c D  |2 udc 
990 |a 7357 
999 |c 5932  |d 5932