Određivanje gubitaka i nadomjesne temperature silicija učinskog bipolarnog tranzistora s izoliranom upravljačkom elektrodom
Tema rada je mjerenje nadomjesne temperature silicija tranzistora s izoliranom upravljačkom elektrodom (IGBT) u pogonskim uvjetima. Cilj rada je razviti novu metodu mjerenja nadomjesne temperature silicija IGBT-a u pogonskim uvjetima koja se provodi bez složene mjerne opreme i na potencijalu pobudn...
| Permalink: | http://skupnikatalog.nsk.hr/Record/fer.KOHA-OAI-FER:29663/Similar |
|---|---|
| Glavni autor: | Bahun, Ivan (-) |
| Ostali autori: | Benčić, Zvonko (Thesis advisor) |
| Vrsta građe: | Knjiga |
| Jezik: | hrv |
| Impresum: |
Zagreb :
I. Bahun ; Fakultet elektrotehnike i računarstva,
2005.
|
APA stil citiranja
Bahun, I., & Benčić, Z. (2005). Određivanje gubitaka i nadomjesne temperature silicija učinskog bipolarnog tranzistora s izoliranom upravljačkom elektrodom: Određivanje gubitaka i nadomjesne temperature silicija učinskog bipolarnog tranzistora s izoliranom upravljačkom elektrodom : doktorska disertacija. Zagreb: I. Bahun ; Fakultet elektrotehnike i računarstva.
Chicago stil citiranjaBahun, Ivan, and Zvonko Benčić. Određivanje gubitaka i nadomjesne temperature silicija učinskog bipolarnog tranzistora s izoliranom upravljačkom elektrodom: Određivanje gubitaka i nadomjesne temperature silicija učinskog bipolarnog tranzistora s izoliranom upravljačkom elektrodom : doktorska disertacija. Zagreb: I. Bahun ; Fakultet elektrotehnike i računarstva, 2005.
MLA stil citiranjaBahun, Ivan, and Zvonko Benčić. Određivanje gubitaka i nadomjesne temperature silicija učinskog bipolarnog tranzistora s izoliranom upravljačkom elektrodom: Određivanje gubitaka i nadomjesne temperature silicija učinskog bipolarnog tranzistora s izoliranom upravljačkom elektrodom : doktorska disertacija. Zagreb: I. Bahun ; Fakultet elektrotehnike i računarstva, 2005.