Projektiranje sklopa za testiranje integriranih sklopova u 180 nm CMOS tehnologiji : završni rad - Bertolan, Roman (R. Bertolan, 2019)
Sažetak na hrvatskom: Mikroelektronika i integrirani sklopovi predstavljaju okosnicu moderne civilizacije. Osnovna komponenta svakog mikroelektroničkog sklopa je tranzistor čije je otkriće dovelo do nevjerojatnog razvoja poluvodičkih tehnologija, od svog otkrića pa sve do danas. Oscilatori koji generiraju signal takta svrstavaju se među najvažnije gradivne blokove integriranih sklopova. Opisani postupak projektiranja zahtijeva duboko poznavanje teorije na razini tranzistora, od osnovnog poznavanja rada pojedinog tranzistora pa sve do toga kako grupe tranzistora zajedno tvore analogne i digitalne sklopove. Kombiniranjem analognih i digitalnih sklopova mogu se postići značajna ostvarenja u mikroelektroničkoj industriji. Kako bi se postigli željeni rezultati i dobio ispravan rad sklopa, bitno je znati da ništa nije idelano te se trebaju ispitati svi mogući realni slučajevi kako bi se na kraju dobio kvalitetan i stabilan proizvod koji će raditi u svim specificiranim uvjetima. U ovom radu opisan je postupak projektiranja ispitnog sklopa za generator takta od 1 Hz u 180 nanometarskoj CMOS tehnologiji. Opisani su podsklopovi koji tvore ispitni sklop. Pomoću sklopovskih simulacija u programskom sustavu Cadence pokazano je kako ispitni sklop ispravno radi u širokom opsegu ulaznih signala te za sve rubne tehnološke parametre.