Charateristics of radio frequency integrated circuits and device reliability in horizontal current bipolar transistor technology : doctoral thesis - Žilak, Josip (J. Žilak ; Fakultet elektrotehnike i računarstva, 2017)
Projektiranjem sklopova frekvencijskih mješala i djelila pokazana je prikladnost tehnologije bipolarnog tranzistora s horizontalnim tokom struje (HCBT) za projektiranje radiofrekvencijskih integriranih sklopova. Demonstrirano je dvostruko balansno aktivno mješalo s translacijom u niže frekvencijsko područje. Ostvarene karakteristike mješala, popust mjere za linearnost IIP3=30.3 dBm i dobitka konverzije CG=6.0 dB, za frekvenciju ulaznog signala od 0.9 GHz, usporedive su s karakteristikama komercijalnih mješala. Projektirana djelila, digitalno statičko i analogno dinamičko s faktorima dijeljenja dva, pokazuju mogućnost rada HCBT-a na frekvencijama do 35 GHz. S ciljem optimizacije HCBT tehnologije, istražen je utjecaj pojedinih tehnoloških parametara na električne karakteristike i karakteristike sklopova. Pouzdanost HCBT tehnologije analizirana je primjenom stresa reverzno polariziranog spoja baza-emiter i mixed-mode stresa. Mjerenjima i simulacijama istraženi su mehanizmi degradacije. Utvrđene su različite lokacije oštećenja i tip nosilaca odgovornih za degradaciju tijekom oba stres testa, što daje smjernice za povećanje pouzdanosti HCBT tehnologije.Znanstveni doprinosi:1. Projektiranje, procesiranje i karakterizacija sklopova frekvencijskih mješala i djelila za primjene u bežičnim komunikacijama u tehnologiji bipolarnog tranzistora s horizontalnim tokom struje (HCBT).2. Procjena utjecaja kritičnih tehnoloških koraka na karakteristike HCBT elemenata i sklopova.3. Određivanje fizikalnih mehanizama degradacije električkih karakteristika HCBT-a mjerenjima i simulacijama primjenom stresnih testova.4. Optimizacija tehnoloških parametara HCBT-a za poboljšanje pouzdanosti i visokofrekvencijskih svojstava sklopova.