Pouzdanost bipolarnog tranzistora s horizontalnim tokom struje : završni rad - Šegmanović, Filip (F. Šegmanović, 2014)
Sažetak na hrvatskom: Bipolarni tranzisotri imaju danas široku primjenu u području mikro i nano tehnologije te je potrebno voditi računa o promjeni njihovih performansi tokom godina. Kada se mjeri pouzdanost tranzistora, promatra se utjecaj promjene (povećanja) struje baze, te istodobno (kao posljedica povećanja struje baze) degradacija statičkog faktora strujnog pojačanja. Pouzdanost se mjeri dvjema metodama, mixed - mode i reverse metodom stresiranja. Razlika je u različitim parametrima koji se namjeste kako bi se ispravno obavila stresiranja. Testovi stresiranja se provode u određenim vremenskim intervalima, u ovom slučaju: bez dovođenja stresa, nakon 30 sekundi, 100, 300, 1000 i 3000 sekundi. Rezultati se prikazuju Gummelovim krivuljama na kojima se vidi odnos struje baze i kolektora o naponu spoja baza - emiter, te promjenu struje baze i degradaciju pojačanja u odnosu o vremenu provođenja stresa.